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      電容測(cè)試儀儀器開(kāi)路校正功能能消除與被測(cè)元件相并聯(lián)的雜散導(dǎo)納（G,B)造成的誤差。開(kāi)路校正包括采用插入計(jì)算法的全頻開(kāi)路校正和對(duì)所設(shè)定的頻率點(diǎn)進(jìn)行的單頻開(kāi)路校正。

            特別注意：當(dāng)進(jìn)行開(kāi)路校正時(shí)應(yīng)將測(cè)試夾具連接到電容測(cè)試儀儀器測(cè)試端。夾具開(kāi)路，不連接到任何被測(cè)元件。

             按軟鍵ON，使開(kāi)路校正有效，電容測(cè)試儀儀器將在以后的測(cè)試過(guò)程中進(jìn)行開(kāi)路校正計(jì)算。

             按軟鍵OFF,關(guān)閉開(kāi)路校正功能。以后的測(cè)量過(guò)程中將不再進(jìn)行開(kāi)路校正的計(jì)算。

           按軟鍵開(kāi)路全頻清，電容測(cè)試儀儀器將對(duì)可測(cè)試的頻率點(diǎn)的開(kāi)路導(dǎo)納（電容和電感）進(jìn)行測(cè)量。開(kāi)路全頻校正大約需要15秒的時(shí)間。在開(kāi)路全頻校正過(guò)程中，顯示軟鍵：放棄

           放棄軟鍵可中止當(dāng)前的開(kāi)路校正測(cè)試操作。保留原來(lái)的開(kāi)路校正數(shù)據(jù)不變。